一行要約

• ミツトヨコーポレーションは1934年に設立された日本の多国籍企業であり、精密測定機器および計測技術分野における世界的なリーディングカンパニーです。マイクロメータから三次元測定機（CMM）に至るまで、幅広い製品ポートフォリオを有しています。世界の製造業界における品質向上に貢献する精密測定ソリューションの提供を中核事業としています。コンピュータベースの統合計測システムの開発を通じて、サブミクロンレベルの測定精度を実現する技術力を有しています。世界22カ国以上にわたる広範なネットワークを通じて、研究開発および製造の専門知識を強化しています。お客様のビジネス発展と産業技術の発展に貢献することを最優先の使命としています。

主要品目/保有技術

• マイクロメータ: 外側マイクロメータ、特殊マイクロメータ、マイクロメータヘッド、ABSOLUTEデジマチックキャリパなど、多様な種類の精密測定工具
• キャリパ: 標準キャリパ、大型キャリパ、特殊キャリパ、ABSOLUTE太陽電池式デジマチックキャリパなど、さまざまな種類の寸法測定工具
• インジケータ: 電子式ドロップインジケータ、ダイヤルテストインジケータ、デジタルインジケータなど、精密な変位および偏差測定装置
• 三次元測定機(CMM): CNC三次元測定機、手動浮動式三次元測定機、CRYSTA-Apex Sシリーズ、MiSTAR 555、MACH Ko-ga-meなど、高精度三次元測定システム
• 形状測定機: 真円度/円筒度測定機、輪郭測定機、FORMTRACER Avantシリーズなど、部品の幾何学的形状および表面特性分析装置
• 画像測定システム: CNC画像測定システム、手動画像測定システム、QuickVision® Probeなど、非接触式高速精密測定ソリューション
• 光学測定装置: 光学比較器、プロファイルプロジェクタ、顕微鏡など、非接触方式で微細部品を検査する装置
• 硬度試験機: マイクロ硬度試験機、ビッカース硬度試験機、ロックウェル硬度試験機など、材料の硬度を測定する装置
• 精密センサシステムおよびリニアエンコーダ: 静電容量式、電磁誘導式、光学式ABSOLUTEリニアエンコーダなどの独自の絶対測定技術
• 測定データ管理ソフトウェア: MeasurLink®、MCOSMOSなど、測定データの収集、分析、管理のための統合ソフトウェアソリューション
• カスタマイズ計測ソリューションおよびインライン自動化: お客様の特定の要求事項に合わせて設計されるカスタマイズ測定システムと、インダストリー4.0のための製造工程統合ソリューション

競争優位ポイント

• 世界最高水準の精密測定技術力と5,500種類以上の製品を網羅する広範なポートフォリオによる市場リード能力
• 電源オン/オフ時の原点再設定が不要なABSOLUTE測定方式のような独自のコア技術を保有
• ISO/IEC 17025認定校正ラボの運営および国家標準へのトレーサビリティシステム構築による測定信頼性の確保
• 航空宇宙、自動車、医療など多様な産業分野に特化したカスタマイズ計測ソリューション提供および総合的な顧客サポートサービス提供能力
• コンピュータベースの統合計測システムおよびインライン自動化ソリューションによるインダストリー4.0時代の品質管理効率の向上
• 高精度、優れた耐久性、ユーザーフレンドリーな設計により、産業現場での高い信頼性と作業利便性を提供

適用産業

• 航空宇宙産業
• 自動車産業
• 医療機器産業
• エネルギー産業
• 電子産業
• 一般製造業
• 防衛産業
• プラスチック・ゴム産業
• 機械製造業

主要市場

• 中国, インド, 日本, 韓国, 台湾, インドネシア, マレーシア, フィリピン, シンガポール, タイ, ベトナム, スリランカ
• オーストリア, ベルギー, チェコ, デンマーク, フィンランド, フランス, ドイツ, ハンガリー, イタリア, オランダ, ノルウェー, ポーランド, ポルトガル, ルーマニア, ロシア, スペイン, スウェーデン, スイス, トルコ, イギリス, アラブ首長国連邦
• カナダ, アメリカ合衆国, メキシコ
• アルゼンチン, ボリビア, ブラジル, チリ, コロンビア, コスタリカ, エクアドル, エルサルバドル, グアテマラ, パナマ, パラグアイ, ペルー, ウルグアイ
• オーストラリア, ニュージーランド

認証/特許

• ISO/IEC 17025 (校正試験所認定)
• ISO 9001:2015 (品質マネジメントシステム認証)
• IP Codes (防塵防水等級標準準拠)
• RoHS Directive (電気電子製品有害物質制限指令準拠)
• ASME (米国機械学会) 寸法測定標準開発貢献
• US D261624 (三次元座標測定機器デザイン特許)
• US D254425 (ダイヤルインジケータデザイン特許)
• US D252501 (内径マイクロメータデザイン特許)
• US 4689890 (デジタルディスプレイ測定装置特許)
• US 4700078 (光学測定装置特許)
• US D1122919 (無線通信装置デザイン特許)
• US 12613085 (イメージングを活用したマイクロメータヘッド変位システム特許)
• US 12656153 (光線パターンを活用した位置および方向追跡計測システム特許)
• US 12625365 (光学装置特許)
• US 4879508A (絶対位置測定のための静電容量型測定装置特許)