一行要約

• 海外の先端電子光学機器を日本市場に紹介・提供する専門輸入商社。半導体、PCB、電子部品の各種高精度非破壊検査、故障解析、変形測定システムを主要事業領域とする企業です。

主要品目/保有技術

• 高精度超音波顕微鏡 C-SAM Gen6 および Gen7 は、パワーデバイス、ボンディングウェーハ、モールドパッケージ、キャパシタ、フリップチップなどのサンプル内部の微細な欠陥（ボイド、剥離、クラック）を非破壊で検出するシステムです。C-SAM Gen7 は、世界最高水準の精度と高解像度イメージング、大型ウェーハ測定に最適化された PolyGate、QDZ、FDI 技術を特徴とする製品です。
• 半導体故障解析装置 Quantum Scope は、光放出顕微鏡、赤外線顕微鏡、レーザー注入技術を活用した多機能故障解析システムです。最小 1.9µm の高解像度を誇る、世界最高水準の IR ホットスポット検出能力を持つ装置です。
• 反り・変形測定システム TDM は、リフロープロファイリングおよびサイクルテスト中の PCB およびパッケージの反りや変形を 1µm 未満の分解能で測定するシステムです。-60°C から +400°C までの温度範囲で、最大 400mm² の測定領域と両面加熱機能を提供する技術です。
• Lock-in Thermography System NBC LIT-Scope は、半導体素子の微細なホットスポット解析のための高感度 IR カメラおよびカスタマイズシステムです。この他にも、高精度 X 線検査装置 Quadra シリーズ、FPA イメージングセンサー評価テストシステムソリューション、T1000、T600、T500 モデルの赤外線カメラなどを取り扱っております。

競争優位ポイント

• 海外の先端技術および電子機器を日本市場に導入・提供する専門輸入商社としての独自のサプライチェーン確保能力。
• 半導体、PCB、電子部品など先端産業分野における微細欠陥検出、故障解析、精密測定に必要とされる高性能ソリューション提供能力。
• C-SAM Gen7 の世界最高水準の精度、Quantum Scope の 1.9µm 高解像度 IR ホットスポット検出など、差別化された製品仕様。
• -60°C から +400°C に及ぶ幅広い温度範囲で反りおよび変形を測定する TDM システムの技術的優位性。
• 精密機器の輸入販売およびメンテナンス、顧客特殊仕様の設計・製造活動に関する ISO 9001:2015 認証取得による信頼性の確保。
• 官公庁および大手企業を対象とした営業活動を通じて構築された顧客ネットワークと市場理解度。

適用産業

• PCB（プリント基板）関連産業分野。
• 半導体製造およびパッケージング産業（パワーデバイス、ボンディングウェーハ、モールドパッケージ、キャパシタ、フリップチップなど）。
• 電子部品およびデバイスの開発・生産分野。
• 品質管理および信頼性評価が重要視される先端技術産業。

主要市場

• 日本

認証/特許

• ISO 9001:2015 品質マネジメントシステム認証を保有。2016年4月27日から認証を維持しており、2025年4月27日まで有効、2028年4月27日まで更新済みです。
• 反り・変形測定システム TDM の両面加熱機能に関する特許技術を保有。
• C-SAM Gen7 の PolyGate、QDZ、FDI 技術など、独自の高精度測定および分析技術。
• Quantum Scope の 1.9µm 高解像度 IR ホットスポット検出技術など、技術的強み。